工業(yè)CT原理說(shuō)明
日期：2025-06-06 01:04
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摘要：工業(yè)CT原理說(shuō)明
工業(yè)CT是在射線(xiàn)檢測的基礎上發(fā)展起來(lái)的，其基本原理是當經(jīng)過(guò)準直且能量I0的射線(xiàn)束穿過(guò)被檢物時(shí)，根據各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數從不同，探測器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無(wú)影像重疊的斷層掃描圖像(圖1），重復上述過(guò)程又可獲得一個(gè)新的斷層圖像，當測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當單能射線(xiàn)束穿過(guò)非均勻物質(zhì)后，其衰減遵從比爾定律： 為已知量，未知量為μ。一幅M×N個(gè)像素組成的圖像，工業(yè)CT必須有M×N個(gè)獨立的方程才能解出衰減系數...
工業(yè)CT原理說(shuō)明
工業(yè)CT是在射線(xiàn)檢測的基礎上發(fā)展起來(lái)的，其基本原理是當經(jīng)過(guò)準直且能量I0的射線(xiàn)束穿過(guò)被檢物時(shí)，根據各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數從不同，探測器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無(wú)影像重疊的斷層掃描圖像(圖1），重復上述過(guò)程又可獲得一個(gè)新的斷層圖像，當測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當單能射線(xiàn)束穿過(guò)非均勻物質(zhì)后，其衰減遵從比爾定律： 為已知量，未知量為μ。一幅M×N個(gè)像素組成的圖像，工業(yè)CT必須有M×N個(gè)獨立的方程才能解出衰減系數矩陣內每一點(diǎn)的μ值。當射線(xiàn)從各個(gè)方向透射被檢物體，通過(guò)掃描探測器可得到MXN個(gè)射線(xiàn)計數和值，按照一定的圖像重建算法，即可重建出MXN個(gè)μ值組成的二維CT灰度圖像。
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